| 标题 |
 A critical review on reliability of quenching experiment in advanced oxidation processes 相关领域
降级（电信）
可靠性（半导体）
猝灭（荧光）
机制（生物学）
生化工程
过程（计算）
催化作用
转化（遗传学）
污染物
催化氧化
计算机科学
生物系统
化学工程
工艺工程
化学
光化学
热力学
工程类
有机化学
物理
生物化学
功率（物理）
操作系统
基因
荧光
量子力学
生物
电信
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：Chemical Engineering Journal 作者：Wei Liu; Yanrong Lu; Yingbo Dong; Qi Jin; Hai Lin 出版日期：2023-06-01 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时，文件已从服务器自动删除，无法下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
爱静静
寻道图强
乐乐乐乐乐乐
Frank
kento
yyymmma
樱桃猴子
fendy
Billy
浅尝离白
jyy
zhouleiwang
吃不饱星球球长
共享精神
领导范儿
shinysparrow
清脆松
tuanheqi
万能图书馆
sissiarno
皖公网安备34019202002308
