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Analysis of dislocation line tilt in GaN single crystal by Raman spectroscopy
GaN单晶位错线倾斜的拉曼光谱分析
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期刊:Japanese Journal of Applied Physics 作者:Nobuhiko Kokubo; Yosuke Tsunooka; Sho Inotsume; Fumihiro Fujie; Shoichi Onda; et al 出版日期:2020-11-27 |
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