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Large scale Si3N4 Integrated Circuit for High-resolution Interferometric imaging
用于高分辨率干涉成像的大规模Si3N4集成电路
相关领域
干涉测量
带宽(计算)
薄脆饼
晶圆规模集成
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光学
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期刊: 作者:Yichi Zhang; Rijuta Ravichandran; Yujia Zhang; S. J. B. Yoo 出版日期:2023-01-01 |
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