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Surface and interface characterization of Ru/C/Ru trilayer structure using grazing incidence X‐ray reflectivity and X‐ray fluorescence
用掠入射X射线反射率和X射线荧光表征Ru/C/Ru三层结构的表面和界面
相关领域
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化学
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物理
复合数
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期刊:Surface and Interface Analysis 作者:Kiranjot; Rajnish Dhawan; Mohammed H. Modi 出版日期:2021-09-22 |
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