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Failure mechanism and life estimate of metallized film capacitor under high temperature and humidity
高温高湿下金属化薄膜电容器失效机理及寿命估算
相关领域
电容器
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材料科学
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期刊:Microelectronics Reliability 作者:Yunxiao Tai; Pengqi Chen; Jian Yang; Qing‐Qing Fang; Xu Dang; et al 出版日期:2022-08-22 |
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