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First Demonstration of Stacked 2T0C-DRAM Bit-Cell Constructed by Two-Layers of Vertical Channel-All-Around IGZO FETs Realizing 4F2 Area Cost
实现4F2面积成本的两层全沟道IGZO场效应晶体管堆叠式2T0C-DRAM位元首次演示
相关领域
德拉姆
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堆栈(抽象数据类型)
材料科学
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期刊:2023 International Electron Devices Meeting (IEDM) 作者:Chuanke Chen; Jinjuan Xiang; Xinlv Duan; Congyan Lu; Jiebin Niu; et al 出版日期:2024-02-08 |
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