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 Enhancement of electrical stability of metal oxide thin-film transistors against various stresses 增强金属氧化物薄膜晶体管在各种应力下的电稳定性
相关领域
材料科学
氧化物
透明度（行为）
薄膜晶体管
金属
晶体管
光电子学
生产成本
工程物理
半导体
场效应晶体管
复合材料
纳米技术
冶金
电气工程
机械工程
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图层（电子）
电压
工程类
计算机安全
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| 其它 |
期刊：Journal of Materials Chemistry C 作者：Young-Seok Kim; Choongik Kim 出版日期：2023-01-01 |
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