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Improved gate reliability of normally off p-GaN gate HEMTs with in situ SiN cap-layer
原位SiN覆盖层提高常闭p-GaN栅极HEMT的栅极可靠性
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期刊:Applied Physics Letters 作者:G X Zhang; Shenglei Zhao; Xiufeng Song; Longyang Yu; Xuejing Sun; et al 出版日期:2024-11-04 |
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