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标题
Improving microcontroller (MCU) immunity performance to system-level ESD/EFT testing through PCB system co-design methodology
通过PCB系统协同设计方法提高微控制器（MCU）对系统级ESD/EFT测试的抗扰性能
相关领域
微控制器 瞬态（计算机编程） 嵌入式系统 计算机科学 工程类 操作系统
网址
http://ieeexplore.ieee.org/iel7/6959874/6968791/06968834.pdf
AI链接 ieee.org
DOI
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其它 期刊：Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium
作者：Rajen Murugan; Jie Chen; Minhong Mi; Bart Basile; Jae Park
出版日期：2014-12-04
求助人
tlhust 在 2025-02-11 09:10:16 发布自河北，悬赏 10 积分
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