标题 |
Three-Dimensional Mechanistic Modeling of Time-Dependent Dielectric Breakdown in Polycrystalline Thin Films
多晶薄膜中随时间介电击穿的三维力学模型
相关领域
随时间变化的栅氧化层击穿
介电强度
材料科学
电介质
电场
量子隧道
凝聚态物理
泊松方程
泄漏(经济)
电压
机械
光电子学
电气工程
栅极电介质
物理
宏观经济学
工程类
经济
晶体管
量子力学
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其它 |
期刊:Physical Review Applied 作者:Qingqing Zhang; Lishuai Yu; Zhengpin Bian; Dong Yuan; Hailing Sun; et al 出版日期:2023-02-02 |
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