| 标题 |
 In situ absolute surface metrology for a 600 mm aperture interferometer 600 mm孔径干涉仪的现场绝对表面计量
相关领域
干涉测量
光学
重复性
旋转（数学）
干扰（通信）
光圈（计算机存储器）
计量学
反射（计算机编程）
菲索干涉仪
物理
天文干涉仪
声学
计算机科学
几何学
数学
统计
频道（广播）
计算机网络
程序设计语言
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：Optics and Lasers in Engineering 作者：You Zhou; Shijie Liu; Qi Lu; Yunbo Bai; Fenxiang Wu; et al 出版日期：2020-06-01 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时，文件已从服务器自动删除，无法下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
不配.
芝士球球
爱静静
随机子
嗯哼
寻道图强
加菲丰丰
Frank
彭于彦祖
Yziii
从容芮
rosalieshi
良辰
iNk
嘉心糖
吉祥
tuanheqi
sissiarno
Leonardi
坚强的广山
皖公网安备34019202002308
