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  Statistical Study of Degradation of Flexible Poly-Si TFTs under Dynamic Bending Stress 柔性多晶硅薄膜在动态弯曲应力下退化的统计研究
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期刊：IEEE Journal of the Electron Devices Society 作者：Bin Li; Wenjuan Zhou; Yang Hu; Mengjun Du; Mingxiang Wang; et al 出版日期：2022-01-01 |
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