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 Particle Monte Carlo modeling of single-event transient current and charge collection in integrated circuits 集成电路中单事件瞬态电流和电荷收集的粒子蒙特卡罗模型
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期刊：Microelectronics Reliability 作者：Jean‐Luc Autran; Maximilien Glorieux; Daniéla Munteanu; Sylvain Clerc; Gilles Gasiot; et al 出版日期：2014-09-01 |
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