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 Investigation of structural and electronic properties of doped ceria Ce1-xMxO2 (M=Hf,Ti,Ba,Mg,Nb,Vx=0.25%) for ReRAM applications: A first principles study 用于ReRAM应用的掺杂二氧化铈Ce1-xMxO2(M=Hf，Ti，Ba，Mg，Nb，Vx=0.25%）的结构和电子性质研究：第一性原理研究
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期刊：Physica E Low-dimensional Systems and Nanostructures 作者：Ejaz Ahmad Khera; Hafeez Ullah; Fayyaz Hussain; Muhammad Imran; R.M. Arif Khalil; et al 出版日期：2020-05-01 |
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