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Impact of depolarization electric-field and charge trapping on the coercive voltage of an Si:HfO2-based ferroelectric capacitor
去极化电场和电荷俘获对Si:HfO2基铁电电容器矫顽电压的影响
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期刊:Semiconductor Science and Technology 作者:Tae Sik Jung; Jaemin Shin; Changhwan Shin 出版日期:2020-11-06 |
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