标题 |
Quantifying transmission electron microscopy irradiation effects using two-dimensional materials
用二维材料量化透射电子显微镜辐照效应
相关领域
表征(材料科学)
电子
透射电子显微镜
材料科学
原子单位
纳米技术
辐照
空位缺陷
电子束处理
原子物理学
工程物理
物理
凝聚态物理
核物理学
量子力学
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其它 |
期刊:Nature Reviews Physics 作者:Toma Susi; Jannik C. Meyer; Jani Kotakoski 出版日期:2019-05-14 |
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