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In situ transmission electron microscopy study of the formation and migration of vacancy defects in atomically thin black phosphorus
原子级薄黑磷中空位缺陷形成和迁移的原位透射电镜研究
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期刊:2D Materials 作者:Fenfa Yao; Yongqing Cai; Zhangru Xiao; Gang Zhang; Rong‐Jun Xie; et al 出版日期:2020-11-25 |
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