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Grain boundary control for high-reliability HfO2-based RRAM
高可靠性HfO2基RRAM的晶界控制
相关领域
电阻随机存取存储器
可靠性(半导体)
材料科学
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工程物理
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电压
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期刊:Chaos Solitons & Fractals 作者:Dong Geun Jeong; Eunpyo Park; Yooyeon Jo; Eunyeong Yang; Gichang Noh; et al 出版日期:2024-05-08 |
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