标题 |
Deep level characteristics in n-GaN with inductively coupled plasma damage
电感耦合等离子体损伤n-GaN的深能级特性
相关领域
感应耦合等离子体
等离子体
材料科学
核工程
化学
物理
工程类
核物理学
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DOI | |
其它 |
期刊:Journal of Physics D 作者:H. K. Cho; Farid Khan; I. Adesida; Zhijia Fang; David C. Look 出版日期:2008-07-18 |
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