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Computer Vision Technology Supported Rapid DRAM Capacitor Analyzing System Based On TEM Image
基于TEM图像的计算机视觉技术支持的DRAM电容快速分析系统
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德拉姆
电容器
计算机科学
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期刊:2022 China Semiconductor Technology International Conference (CSTIC) 作者:Zhi-Yuan Gui; Chang Xu; Yan Han; Zhiyu Li 出版日期:2023-06-26 |
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