标题 |
Addressing systematic errors in axial distance measurements in single-emitter localization microscopy
相关领域
光学
共发射极
计量学
材料科学
显微镜
计算机科学
显微镜
点扩散函数
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网址 | |
DOI |
10.1364/OE.391496
doi
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其它 |
期刊:Optics Express 作者:Petar N. Petrov; W. E. Moerner 出版日期:2020 |
求助人 | |
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