| 标题 |
 Relaxation Induced by Imprint Phenomena in Low-Temperature (400 °C) Processed Hf0.5Zr0.5O2-Based Metal-Ferroelectric-Metal Capacitors 相关领域
电容器
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| 其它 |
期刊：ACS Applied Electronic Materials 作者：Jaidah Mohan; Yong Chan Jung; Heber Hernandez-Arriaga; Jin-Hyun Kim; Takashi Onaya; et al 出版日期：2022 |
| 求助人 |
GuoliangTian 在
2022-03-11 18:52:28 发布，悬赏 10 积分
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