标题 |
Reproducibility of two calibration procedures for phase-measuring deflectometry
相关领域
校准
计量学
再现性
准确度和精密度
测量不确定度
光学
重复性
观测误差
材料科学
相(物质)
度量(数据仓库)
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网址 | |
DOI |
10.1117/12.2567092
doi
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其它 |
期刊:Interferometry XX 作者:Stephan Allgeier; Ulrich Gengenbach; Bernd Köhler; Klaus-Martin Reichert; Veit Hagenmeyer 出版日期:2020-08-21 |
求助人 |
沭怷 在
2021-03-18 20:50:55 发布,悬赏 10 积分
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