| 标题 |
 Identification of fine structures at the surface of epi-ready GaN wafer observed by confocal differential interference contrast microscopy 相关领域
微分干涉显微术
抛光
薄脆饼
材料科学
位错
共焦
干涉显微镜
显微镜
干扰（通信）
光学
基面
光学显微镜
对比度（视觉）
Burgers向量
共焦显微镜
光电子学
结晶学
复合材料
化学
物理
扫描电子显微镜
工程类
频道（广播）
电气工程
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| 其它 |
期刊：Japanese Journal of Applied Physics 作者：Yukari Ishikawa; Yoshihiro Sugawara; Koji Sato; Yongzhao Yao; Narihito Okada; et al 出版日期：2020-09-23 |
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