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 GaN/InGaN LED Sidewall Defects Analysis by Cathodoluminescence and Photosensitive Kelvin Probe Force Microscopy GaN/InGaN LED侧壁缺陷的阴极发光和光敏开尔文探针力显微镜分析
相关领域
阴极发光
开尔文探针力显微镜
材料科学
光电子学
发光二极管
发光
表面光电压
蚀刻（微加工）
宽禁带半导体
光学
图层（电子）
纳米技术
原子力显微镜
量子力学
光谱学
物理
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期刊：ACS Photonics 作者：Palmerina González-Izquierdo; N. Rochat; Konrad Sakowski; Davide Zoccarato; Matthew Charles; et al 出版日期：2024-04-20 |
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