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Mechanism Analysis and Highly Scaled Aluminum Nitride‐Based Self‐Rectifying Memristors
高尺度氮化铝基自整流忆阻器的机理分析与研究
相关领域
记忆电阻器
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期刊:Advanced Electronic Materials 作者:Kailiang Zhang; Xuanyu Zhao; Yemei Han; Kai Hu; Yujian Zhang; et al 出版日期:2022-08-28 |
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