标题 |
Anomalies in thickness measurements of graphene and few layer graphite crystals by tapping mode atomic force microscopy
石墨烯和薄层石墨晶体厚度测量中的异常
相关领域
出钢
拉曼光谱
石墨烯
石墨
原子力显微镜
材料科学
微晶
导电原子力显微镜
悬臂梁
纳米技术
复合材料
光学
物理
经济
管理
冶金
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊:Carbon 作者:Péter Nemes–Incze; Z. Osváth; K. Kamarás; László Péter Biró 出版日期:2008-06-18 |
求助人 | |
下载 | |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|