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Evaluation of contact resistance for high mobility C10-DNTT based OFET using two-dimensional TCAD simulation
基于高迁移率C10-DNTT的OFET接触电阻的二维TCAD仿真评估
相关领域
有机场效应晶体管
接触电阻
材料科学
光电子学
电气工程
纳米技术
晶体管
场效应晶体管
工程类
图层(电子)
电压
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DOI | |
其它 |
期刊:AIP conference proceedings 作者:Vijay Kumar; Charu Madhu 出版日期:2024-01-01 |
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