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Efficient Built-In Self-Test Scheme for Inter-Die Interconnects of Chiplet-Based Chips
基于小芯片的芯片间互连的高效内置自测试方案
相关领域
模具(集成电路)
方案(数学)
内置自检
计算机科学
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数学
生物
数学分析
古生物学
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期刊: 作者:Yi‐Chun Huang; Pei-Yun Lin; Jin-Fu Li; H. Y. Fu; Yung-Ping Lee 出版日期:2024-11-03 |
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