标题 |
Rapid THz time-of-flight imaging on single layer graphene for conductivity assessment
用于电导率评估的单层石墨烯快速太赫兹飞行时间成像
相关领域
太赫兹辐射
石墨烯
飞行时间
电导率
材料科学
光学
图层(电子)
光电子学
遥感
纳米技术
物理
地质学
量子力学
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期刊:Infrared Physics & Technology 作者:Young Chul Kim; Jong Hyuk Yim; Abbas Ahmad Khan; Jangsun Kim; Y. H. Ahn 出版日期:2024-02-02 |
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