标题 |
Accelerated Degradation of SiO/NCM Cell Quick Rechargeability Due to Depth-of-Discharge Range Dependent Failure Induced Li Dendrite Formation
由于放电深度范围相关失效诱导的锂枝晶形成,SiO/NCM电池快速充电性能的加速退化
相关领域
电极
材料科学
降级(电信)
电解质
电镀(地质)
锂(药物)
化学工程
复合材料
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期刊:Journal of The Electrochemical Society 作者:Tae Hyeon Kim; Sung Su Park; Min Su Kang; Ye Rin Kim; Ho-Seok Park; et al 出版日期:2022-02-10 |
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