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书籍(章节) Deep Neural Networks for Source Tracking of Chemical Leaks and Improved Chemical Process Safety
用于化学品泄漏源跟踪和提高化学过程安全性的深度神经网络
相关领域
人工神经网络
泄漏
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期刊:Computer-aided chemical engineering/Computer aided chemical engineering 作者:Hyunseung Kim; En Sup Yoon; Dongil Shin 出版日期:2018-01-01 |
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