标题 |
Impedance Spectroscopy Analysis of Structural Defects in Sputtered ZnO Films
溅射ZnO薄膜结构缺陷的阻抗谱分析
相关领域
材料科学
介电谱
微尺度化学
电容
微观结构
纳米孔
扫描电子显微镜
纳米尺度
电解质
复合材料
基质(水族馆)
光电子学
纳米技术
电化学
电极
化学
海洋学
地质学
数学教育
物理化学
数学
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊:ChemElectroChem 作者:Josiane Moreira da Costa; Michel Prestat; Bernard Tribollet; Benoit Lescop; Stéphane Rioual; et al 出版日期:2020-04-06 |
求助人 | |
下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|