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![]() SiC衬底上ScAlN/GaN/β-Ga2O3和ScAlN/InGaN/β-Ga2O3 HEMTs的直流和射频分析
相关领域
材料科学
光电子学
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期刊:Microelectronics Journal 作者:M Jagadesh; A. Karthikeyan; Devaraj Somasundaram 出版日期:2024-08-31 |
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yyxyyx
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2025-04-02 11:42:18 发布,悬赏 10 积分
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