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 Critical method evaluation refutes the Ar 2p signal of implanted Ar for referencing X-ray photoelectron spectra 临界方法评价驳斥注入Ar的Ar 2p信号作为X射线光电子能谱的参考
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期刊：Applied Surface Science 作者：Grzegorz Greczyński; Lars Hultman 出版日期：2023-10-01 |
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