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Voltage-time dilemma of pure electronic mechanisms in resistive switching memory cells
电阻开关存储单元中纯电子机制的电压-时间困境
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期刊:Journal of Applied Physics 作者:Herbert Schroeder; V.V. Zhirnov; Ralph K. Cavin; Rainer Waser 出版日期:2010-03-01 |
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