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Channel Length-Dependent Charge Detrapping on Threshold Voltage Shift of Amorphous InGaZnO TFTs Under Dynamic Bias Stress
动态偏压下非晶态InGaZnO薄膜晶体管阈值电压偏移的沟道长度电荷解扰
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期刊:I.E.E.E. transactions on electron devices/IEEE transactions on electron devices 作者:Suehye Park; Edward Namkyu Cho; Ilgu Yun 出版日期:2013-05-01 |
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