| 标题 |
 Field-effect passivation of the SiO2Si interface SiO2Si界面的场效应钝化
相关领域
钝化
薄脆饼
硅
材料科学
螺旋钻
载流子寿命
分析化学（期刊）
氧化物
俄歇效应
原子物理学
热的
分子物理学
电子
化学
光电子学
纳米技术
物理
图层（电子）
色谱法
量子力学
气象学
冶金
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：Journal of Applied Physics 作者：Stefan W. Glunz; D. Bíro; Stefan Rein; Wilhelm Warta 出版日期：1999-07-01 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时，文件已从服务器自动删除，无法下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
科研小民工
昏睡的蟠桃
cdercder
pluto
劲秉
nozero
Cactus
子车茗
iNk
back you up
彭于彦祖
SYLH
zho
猪猪hero
微笑的严青
Thien
VDC
今天只做一件事
kingwill
一一
皖公网安备34019202002308
