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 Grain Scattering Noise Modeling and Its Use in the Detection and Characterization of Defects Using Ultrasonic Arrays 颗粒散射噪声建模及其在超声阵列缺陷检测和表征中的应用
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期刊：IEEE Transactions on Ultrasonics Ferroelectrics and Frequency Control 作者：Long Bai; Alexander Velichko; Bruce W. Drinkwater 出版日期：2019-11-01 |
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