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The Effects of Poly Corner Etch Residue on Advanced Finfet Device Performance
多边形角蚀残留物对先进Finfet器件性能的影响
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期刊: 作者:Qingpeng Wang; Yu De Chen; Cheng Li; Rui Bao; Jacky Huang; et al 出版日期:2021-03-14 |
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