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Rapid and Reliable Thickness Identification of Two-Dimensional Nanosheets Using Optical Microscopy
利用光学显微镜快速可靠地识别二维纳米片的厚度
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期刊:ACS Nano 作者:Hai Li; Jumiati Wu; Xiao Huang; Gang Lü; Jian Yang; et al 出版日期:2013-10-16 |
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