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A Back-Illuminated SPAD Fabricated With 40 nm CMOS Image Sensor Technology Achieving Near 40% PDP at 940 nm
采用40 nm CMOS图像传感技术制作的背照式SPAD在940 nm处实现了近40%的PDP
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期刊:IEEE Journal of Selected Topics in Quantum Electronics 作者:Eunsung Park; Won-Yong Ha; Hyo-Sung Park; Doyoon Eom; Hyun-Seung Choi; et al 出版日期:2023-01-01 |
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