Junction Temperature Extraction for Silicon Carbide Power Devices: A Comprehensive Review

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标题	Junction Temperature Extraction for Silicon Carbide Power Devices: A Comprehensive Review 碳化硅功率器件结温提取综述相关领域碳化硅材料科学结温工程物理硅光电子学功率半导体器件萃取（化学）碳化物功率（物理）宽禁带半导体电气工程温度测量电子工程工程类冶金电压物理化学色谱法量子力学
网址	https://ieeexplore.ieee.org/abstract/document/10740592
DOI	10.1109/TPEL.2024.3486149 doi
求助人	大潮在 2024-12-27 14:06:16 发布自山东，悬赏 20 积分
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