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 Reflectometry–Ellipsometry Reveals Thickness, Growth Rate, and Phase Composition in Oxidation of Copper 反射法-椭偏法揭示了铜氧化过程中的厚度、生长速率和相组成
相关领域
材料科学
铜
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期刊：ACS Applied Materials & Interfaces 作者：Juan S. Leon; David M. Fryauf; Robert D. Cormia; M.-X. Zhang; Kathryn Samuels; et al 出版日期：2016-08-16 |
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