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![]() KD-LightNet:基于知识提炼的工业缺陷检测轻量级网络
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期刊:IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement 作者:Jinhai Liu; Hengguang Li; Fengyuan Zuo; Zhen Zhao; Senxiang Lu 出版日期:2023-01-01 |
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