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Majority and Minority Carrier Traps in NiO/β -Ga₂O₃ p⁺-n Heterojunction Diode
NiO/β-Ga₂O₃p⁺-n异质结二极管中的多数载流子和少数载流子陷阱
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计算机科学
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期刊:IEEE Transactions on Electron Devices 作者:Zhengpeng Wang; Hehe Gong; Chenxu Meng; Xiangmin Yu; Xinyu Sun; et al 出版日期:2022-01-01 |
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