Effect of oxygen vacancies on dielectric property and reliability of anti-ferroelectric PLZT applicable to EV-MLCC

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标题	Effect of oxygen vacancies on dielectric property and reliability of anti-ferroelectric PLZT applicable to EV-MLCC 氧空位对EV-MLCC用反铁电PLZT介电性能和可靠性的影响相关领域材料科学电介质铁电性可靠性（半导体）氧气财产（哲学）可靠性工程凝聚态物理光电子学热力学工程类功率（物理）化学物理哲学有机化学认识论
网址	https://doi.org/10.1007/s12034-023-03105-z
DOI	10.1007/s12034-023-03105-z doi
其它	期刊：Bulletin of Materials Science 作者：Jeoung Sik Choi; Dong Chul Kim; Hyo‐Soon Shin; Dong Hun Yeo; Joon‐Hyung Lee 出版日期：2024-02-17
求助人	右路的地方在 2024-04-27 19:15:42 发布自内蒙古，悬赏 10 积分
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