标题 |
Deep learning-based discriminative refocusing of scanning electron microscopy images for materials science
基于深度学习的材料科学扫描电子显微镜图像判别重聚焦
相关领域
卷积神经网络
人工智能
扫描电子显微镜
深度学习
光学(聚焦)
计算机科学
材料科学
比例(比率)
自动化
模式识别(心理学)
光学
物理
机械工程
工程类
量子力学
复合材料
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其它 |
期刊:Acta Materialia 作者:Juwon Na; Gyuwon Kim; Seong-Hoon Kang; Se Jong Kim; Seung−Chul Lee 出版日期:2021-08-01 |
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