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 3D electro-thermal investigations for reliability of ultra low ON state resistance power MOSFET 超低导通电阻功率MOSFET可靠性的三维电热研究
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期刊：Microelectronics Reliability 作者：J.B. Sauveplane; P. Tounsi; E. Scheid; A. Deram 出版日期：2008-08-01 |
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