标题 |
Oxide thin film depth profiling: interest and limitations of argon sputtering for photoemission spectroscopy
氧化物薄膜深度剖面:氩溅射用于光电发射光谱的兴趣和局限性
相关领域
溅射
氩
材料科学
薄膜
仿形(计算机编程)
光电发射光谱学
X射线光电子能谱
氧化物
光谱学
光电子学
分析化学(期刊)
纳米技术
化学
计算机科学
原子物理学
化学工程
物理
冶金
工程类
量子力学
操作系统
色谱法
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其它 |
期刊: 作者:Mathieu Frégnaux; Yoan Bourlier; B. Bérini; Yves Dumont; Damien Aureau 出版日期:2022-05-29 |
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